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基于相干态探针的双模量子探测器层析成像量子测量纠缠特性的表征

08/11/2019

S Yokoyama,ND Pozza,T Serikawa,KB Kuntz,TA Wheatley,D Dong,EH Huntington,H Yonezawa

光学快递,34416 (2019)

基于相干态探针的双模量子探测器层析成像量子测量纠缠特性的表征

纠缠测量是量子技术的重要工具。我们提出了一种新的多模检测纠缠度量,它估计了在测量中可以产生的纠缠量。为了说明所提出的测量方法,我们对由两个超导纳米线单光子探测器组成的双模探测器进行量子层析成像。我们的方法利用相干态作为探测态,这可以很容易地准确制备。我们的工作表明,分离状态,如相干态,足以表征潜在的纠缠检测器。我们研究了探测器在各种设置下的缠绕能力。我们提出的测量方法验证了探测器在一定条件下进行纠缠测量,并揭示了探测器纠缠特性的性质。由于探测器的精确表征对于量子信息技术的应用至关重要,探测器特性的实验重建以及提出的测量将是未来量子信息处理的关键特征。

大学:UNSW 悉尼

作者中心参与者:Yokoyama Shota 博士、 Trevor Wheatley 博士、 Elanor H.Huntington 教授、 Yonezawa Hidehiro 博士

来源:光学快递

出版物类型:参考期刊文章

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